nanoCT-Labortomographen erreichen Qualität von synchrotronbasierter, hochauflösender CT

Durch die Möglichkeit, Materialien und Bauteile mit sehr hoher Auflösung zu erfassen und virtuell beliebige 3D-Schnitte durch ihr Inneres anzulegen, eröffnet hochauflösende Computer-Tomographie (CT) völlig neue Analysemöglichkeiten für die Materialforschung. Jeder Unterschied bezüglich Materialzusammensetzung oder Dichte kann visualisiert und analysiert werden. Dies macht exakte Aussagen über die Lage von Fasern, Lunkern etc. möglich, ohne das Untersuchungsobjekt zu zerstören.

Dennoch wird die inzwischen erreichbare Qualität der CT-Ergebnisse von kompakten Laborsystemen vielfach noch unterschätzt. In einer bei der International Society for Optical Engineering (SPIE) veröffentlichten Studie wurde nun erstmals ein hochauflösendes nanoCT-System (phoenix|x-ray nanotom von GE Sensing & Inspection Technologies) mit den an einem Synchrotron-Speichering erzielten CT-Ergebnissen (Beamline W2 am HASYLAB/DESY, Hamburg) verglichen.

Mit seiner 180 kV/15 W-nanofocus-Röntgenröhre kann das nanotom sowohl für hochauflösende Scans schwach absorbierender Proben mit Voxelauflösungen unter 500 Nanometern als auch für stark absorbierende metallische Proben mit Voxelgrößen von wenigen Mikrometern eingesetzt werden. Es konnte gezeigt werden, dass hochauflösende Labor-CT-Systeme in vielen Anwendungsbereichen nicht nur in Bezug auf die Qualität der Ergebnisse, sondern auch bezüglich ihrer Verfügbarkeit und Wirtschaftlichkeit eine Alternative zur synchrotronbasierten CT darstellen können.

GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
Dr. Dirk Neuber
dirk.neuber@ge.com
www.phoenix-xray.com