Kammrath & Weiss bietet kundenspezifische Entwicklungen in der Rasterelektronenmikroskopie und anderen Bereichen der Mikroskopie und Physik.

Produkte

Spitzenmessplätze für die Halbleiterindustrie- Flüssig-Stickstoffcryostaten- Flüssig-Heliumcryostaten inkl. Steuerelektronik- Probentische für Arbeiten in der Mikroskopie und anderen Bereichen- FIB (Focused Ion Beam Workstations)- AFM (Atomic Force Microscopy)- REM (Rasterlektronenmikroskopie)

Dienstleistungen

Materialprüfung, Spezialentwicklungen, Prototypen und Kleinserien von Gerätelösungen für in-situ Untersuchungen in der Mikroskopie